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X熒光光譜儀多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗,以特別的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要,人性化的設計,使測試工作更加輕松完成。
X熒光光譜儀集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。
原子熒光光譜儀(Atomic Fluorescence Spectrometry)作為原子光譜法的一個重要分支,是20世紀60年代中期提出并發(fā)展起來的新型光譜分析技術(shù),它具有原子吸收光譜法和原子發(fā)射光譜法兩種技術(shù)的優(yōu)勢,并克服現(xiàn)有分析技術(shù)的不足,是一種優(yōu)良的痕量分析技術(shù)。
X熒光光譜儀 分 析 范 圍: 1PPM-99.99% 同 時 分 析: 幾十種元素同時分析 測量鍍層:鍍層厚度測量精確至0.005微米
便攜式瀝青紅外光譜儀本儀器采用傅里葉變換紅外光譜分析法,可快速、準確、安全、可靠地測定改性瀝青中SBS的含量,是各瀝青生產(chǎn)、研究、使用、第三方檢測等單位,測定瀝青中SBS含量的理想儀器。儀器特點:1、便捷:移動便攜式專門設計,既適合于實驗室內(nèi)使用,更適宜于施工工地現(xiàn)場
自動瀝青紅外光譜儀本儀器采用傅里葉變換紅外光譜分析法,可快速、準確、安全、可靠地測定改性瀝青中 SBS 的含量,是各瀝青混合料生產(chǎn)、研究、使 用等單位檢測瀝青中 SBS 含量的理想儀器。